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芯片外观自动视觉检测设备
此设备采用AI以及传统算法想结合，利用分布式集群架构，采用高性能，高倍率工业摄像机对半导体芯片表面缺陷进行工业检测。
编写机器视觉核心算法 从0到1完成了安期完成并交互客户使用
性能参数
行业分类 : 暂无分类
开发平台 : Qt
交付形式 : 整机,软件
性能参数 : 芯片外观自动视觉检测设备 : 500
应用场景 : 半导体芯片
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